一、整流效應(yīng)綜合測(cè)試儀設(shè)備概述：本測(cè)試儀主要針對(duì)電子鎮(zhèn)流器的局部整流效應(yīng)不對(duì)稱(chēng)脈沖測(cè)試，向用戶(hù)提供簡(jiǎn)單而功能明晰的前面板，以進(jìn)行所有的基本操作。各通道的標(biāo)度和位置提供了直觀的操作，*符合傳統(tǒng)儀器的使用習(xí)慣，用戶(hù)不必花大量的時(shí)間去學(xué)習(xí)和熟悉設(shè)備的操作，即可熟練使用。易于使用之外，本裝置還具有更快完成測(cè)量任務(wù)所需要的高性能指標(biāo)和強(qiáng)大功能。通過(guò)MCU提供的晶振可在測(cè)試中準(zhǔn)確得到試驗(yàn)所需要的振蕩波形，別且向用戶(hù)提供易于觀察振蕩波形以及周期的信號(hào)輸出端，易于對(duì)設(shè)備實(shí)施校準(zhǔn)。清晰的液晶顯示、便于用戶(hù)更快更清晰地觀察各個(gè)階段的實(shí)驗(yàn)狀態(tài)。

 

• 整流效應(yīng)綜合測(cè)試儀滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：

滿(mǎn)足IEC60598-1:2003，GB7000.1-2007等相關(guān)及國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)要求，提供GB7000.1附錄C中的金屬鹵化物燈和高壓鈉燈異常試驗(yàn)電路，模擬HID鎮(zhèn)流器在半波電流作用下安全性良好與否，提供機(jī)構(gòu)的計(jì)量證書(shū)。
三、產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.MCU控制實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)便；
2.完整顯示測(cè)試時(shí)間，方便了解每個(gè)試驗(yàn)進(jìn)程；
3.程式的選擇與測(cè)試均有狀態(tài)顯示，試驗(yàn)情況一目了然；
4.試驗(yàn)線(xiàn)路振蕩周期精準(zhǔn)，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確；
5.預(yù)熱時(shí)間可自行設(shè)置；
6.背光液晶顯示；
7.測(cè)試安全可靠。
四、技術(shù)參數(shù) ：
1）工作電壓： 交流220V /50Hz；
2）輸入功率： 60VA 試驗(yàn)燈；
3) 電流范圍： 0-30A；
4）電阻范圍： 0-200Ω；
5）試驗(yàn)二極管： 200A 1200V；
6）電壓輸出顯示： 0-500V；
7）電流輸出顯示： 0-40A；
8）具有瞬時(shí)電壓的耐沖擊功能。